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2025-03-27
GB28007-2024圖11大型頭規(guī)4.2.4.3除兒童高椅外,嬰幼兒家具中可觸及區(qū)域內(nèi)WAN全閉合的開(kāi)口,圖11所示的小型頭規(guī)在30N的力作用下不應(yīng)通過(guò);若圖11所示的小型頭規(guī)通過(guò),則圖12所示的大型頭規(guī)在沒(méi)有力作用下應(yīng)WAN全通過(guò),若大型頭規(guī)通過(guò)的WAN全閉合的開(kāi)口中的含有部分閉合的開(kāi)口、V形開(kāi)口及非規(guī)則形狀的開(kāi)口,則應(yīng)滿足4.2.4.5的規(guī)定。小型頭規(guī)和大型頭規(guī)采用塑料或其他硬質(zhì)、光滑材料制成,小型頭規(guī)尺寸偏差為-0.5mm~0mm,大型頭規(guī)尺寸偏差為0mm~+0.5...2025-03-27
GB28007-2024圖11小型頭規(guī)#圖紙參數(shù)4.2.4.3除兒童高椅外,嬰幼兒家具中可觸及區(qū)域內(nèi)WAN全閉合的開(kāi)口,圖11所示的小型頭規(guī)在30N的力作用下不應(yīng)通過(guò);若圖11所示的小型頭規(guī)通過(guò),則圖12所示的大型頭規(guī)在沒(méi)有力作用下應(yīng)WAN全通過(guò),若大型頭規(guī)通過(guò)的WAN全閉合的開(kāi)口中的含有部分閉合的開(kāi)口、V形開(kāi)口及非規(guī)則形狀的開(kāi)口,則應(yīng)滿足4.2.4.5的規(guī)定。小型頭規(guī)和大型頭規(guī)采用塑料或其他硬質(zhì)、光滑材料制成,小型頭規(guī)尺寸偏差為-0.5mm~0mm,大型頭規(guī)尺寸偏差為0mm...2025-03-27
GB28007-2024圖10所示網(wǎng)眼手指探棒#嘉士達(dá)2025新品4.2.4.2產(chǎn)品可觸及區(qū)域的網(wǎng)織物,用圖10所示的網(wǎng)眼手指探棒試驗(yàn),在最大力30N的作用下,網(wǎng)眼手指探棒7mm的直徑區(qū)域不應(yīng)進(jìn)入網(wǎng)眼。網(wǎng)眼手指探棒采用塑料或其他硬質(zhì)、光滑材料制成,一端為$7.8mm,另一端半徑為2.8mm±0.2mm的圓柱,端部連接力值測(cè)量裝置。序號(hào)標(biāo)準(zhǔn)號(hào)圖號(hào)名稱規(guī)格1GB28007圖8半球形手指探棒Φ5mm2GB28007圖8半球形手指探棒Φ7mm3GB280...2025-03-27
GB28007-2024圖9形狀評(píng)估探棒#技術(shù)規(guī)格要求4.2.4.1產(chǎn)品可觸及區(qū)域內(nèi)剛性部件上,深度超過(guò)10mm的孔及間隙,其直徑或間隙用直徑7mm的半球形手指探棒(見(jiàn)圖8)施力30N不應(yīng)通過(guò),或用直徑12mm的半球形手指探棒(見(jiàn)圖8)不施力應(yīng)通過(guò);若其直徑或間隙不小于7mm、小于12mm,用形狀評(píng)估探棒(見(jiàn)圖9)施力5N,形狀評(píng)估探棒插入深度應(yīng)不小于10mm且應(yīng)能在施加相反力5N作用下拔出。半球形手指探棒和形狀評(píng)估探棒采用塑料或其他硬質(zhì)、光滑材料制成,端部連接力值測(cè)量裝置。...2025-03-27
GB28007-2024圖8半球形手指探棒@嘉士達(dá)新品GB28007-2024嬰幼兒及兒童家具安全技術(shù)規(guī)范4.2.4孔、間隙及開(kāi)口4.2.4.1產(chǎn)品可觸及區(qū)域內(nèi)剛性部件上,深度超過(guò)10mm的孔及間隙,其直徑或間隙用直徑7mm的半球形手指探棒(見(jiàn)圖8)施力30N不應(yīng)通過(guò),或用直徑12mm的半球形手指探棒(見(jiàn)圖8)不施力應(yīng)通過(guò);若其直徑或間隙不小于7mm、小于12mm,用形狀評(píng)估探棒(見(jiàn)圖9)施力5N,形狀評(píng)估探棒插入深度應(yīng)不小于10mm且應(yīng)能在施加相反力5N作用下拔出。半球形手...2025-03-14
在電子產(chǎn)業(yè)和材料科學(xué)領(lǐng)域，電阻性能的準(zhǔn)確評(píng)估對(duì)于產(chǎn)品的研發(fā)、生產(chǎn)和質(zhì)量控制至關(guān)重要。而薄膜電阻作為電子器件中重要的一部分，其性能的穩(wěn)定性直接影響著整個(gè)產(chǎn)品的性能和壽命。為了準(zhǔn)確評(píng)估薄膜電阻的性能，一款高效、精準(zhǔn)的測(cè)試儀器——薄膜電阻測(cè)試儀應(yīng)運(yùn)而生，成為了眾多科研人員和工程師的得力助手。薄膜電阻儀，顧名思義，是一款專門用于測(cè)試薄膜電阻性能的儀器。它采用了先進(jìn)的測(cè)試技術(shù)和精密的電路設(shè)計(jì)，能夠準(zhǔn)確測(cè)量薄膜電阻的阻值、精度、穩(wěn)定性等關(guān)鍵參數(shù)。這款神器不僅具有高度的測(cè)量準(zhǔn)確性，還擁有操...2025-03-10
GB2591.14低溫卷繞測(cè)試裝置低溫卷繞試驗(yàn)裝置是依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)GB2591.14及IEC60811第8條款試驗(yàn)要求制作，是用于檢測(cè)外徑12.5mm及以下的圓形絕緣線芯及不能制備啞鈴試件的扇形絕緣線芯，在低溫條件下卷繞彎曲，不能產(chǎn)生裂紋的專用試驗(yàn)裝置。主要參數(shù)：1、低溫卷繞試樣直徑：Ф2.5～Ф12.5mm2、卷繞棒直徑：Ф4.0～Ф37.5mm3、過(guò)線套：Ф3.5、Ф6、Ф10、Ф12、Ф16mm等4、試樣纏撓圈數(shù)：2～10圈5、本系列裝置全為不銹鋼制作根據(jù)客戶樣品的需求選擇不...